測試

 

Polar UK: Atlas Si VNA PCB Insertion Loss measurement system

適用於ANRITSU VNA的Atlas符合IPC TM650 2.5.5.12（確定高速印刷電路板上信號損失量的測試方法），並為INTEL的最新一代Delta-L測試方法提供了支持。

Atlas Si是專為PCB製造商和OEM設計的高精度插入損耗測量套件。 它提供了基於頻率的傳輸線損耗的準確，可重複的測量，使製造商能夠滿足嚴格的目標，即在運行高達43 GHz高速信號的最新高速芯片組的範圍內保持信號完整性

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 系列為RF和微波網絡分析應用程序實現了更高水平的功能，靈活性和價值。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA為50 kHz至43.5 GHz的測量提供出色的性能。 這些儀器非常適合測試具有通用VNA要求的無源和許多有源組件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技術和設計專業知識，可在有效包裝，緊湊且堅固的VNA儀器中實現出色的動態範圍，校準和測量穩定性以及速度性能。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA

  • 帶有時間選通選項的時域使寬帶設備中的故障識別更加輕鬆快捷
  • 獲得專利的非線性傳輸線（NLTL）技術提供了比競爭技術更寬的帶寬和更高的動態範圍，從而在更長的校準間隔之間實現了更高的測量精度和可重複性
  • 多種校準方法可供選擇，以最適合您的應用– SOLT，SOLR，SSLT，SSST，LRL，LRM或Thru update
  • Precision AutoCal™或SmartCal™，提供一種簡單的一鍵式VNA校準自動方法
  • 消除了對過度指定的高端VNA的需求，這些產品具有生產測試不需要的額外功能
  • Anritsu的Extended-KTM連接器使ShockLine頻率選項43 VNA能夠以K / 2.92 mm兼容尺寸提供高達43.5 GHz的性能保證

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Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-KTM

POLAR：新CITS880s - 可控阻抗測試系統解决方案

CITS880s系統是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗測試系統。這是給需要精細測量的軌跡及薄銅阻抗的解決方案。 CITS880s設有Launch Point Extrapolation (LPE)，外接的TDR能夠更準確地測量線路的瞬時或阻抗的開始。除了Launch Point Extrapolation (LPE)外，CITS880s也能夠檢測shorter traces - 通常為2至3英寸比前幾代CITS系列較為短。 CITS880s現在提供重新設計且由防靜電耗材精密成型製造的IPS和IPDS高速探棒。以給CITS給予最大程度的保護。

Polar的IPS和IPDS高速探棒，是專門設計用於CITS880s。他們修改了內部，使用更堅固的機械設計及改進了信號路徑，符合人體工程學並使用100％的防靜電耗材的精密模壓成型。 IPS和IPDS探針與前一代的探針容易地識別，使用藍色標籤及藍色的對比抗蝕探針於探棒接口上。

点击这里看看有什麼新的CITS880s

Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自動化特性阻抗測量系統

奧地利POLAR GMBH製造的RITS550使行業標準CITS880s（受控阻抗測試系統）自動化，從而可以快速，可重複地對試樣和PCB進行樣品板測試。該系統通過易於使用的Windows軟件進行控制。測試設置簡單明了，結果數據以可訪問的格式自動記錄，並且有內置的報告生成器選項。

準確，可追溯的測量RITS550使用成熟的時域反射儀（TDR）技術來測量快速上升時間脈衝的反射。高精度參考空氣芯-可追溯到NPL（英國國家物理實驗室）和NIST（美國國家標準與測試研究所）標準，可確保可重複的測量精度以控制線路阻抗。

RITS550飛行探針技術的測試時間與基於夾具的系統一樣快，可提供無與倫比的測量可重複性，而終身擁有成本僅為基於夾具的系統的一小部分。 RITS550非常適合於試樣測試或小尺寸電路板測試。

RITS880自動阻抗測量系統是一個大型平台，可容納按需定制的全尺寸PCB面板。它可以合併全尺寸的面板（是RITS550的較大版本），並且可以選擇配備自動上/下板機，從而為阻抗測試提供完全自動化的功能。

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PWB: IST HC- 互連壓力測試系統

互連應力測試或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.開發的一種加速應力測試方法，它克服了熱烘箱或液體/液體測試方法的局限性。它具有有效，快速地量化包括微孔在內的不同類型通孔完整性的能力。 IST從基板內部產生均勻的應變，並且互連能力可以分配和重新分配此應變，這表明完整性。電鍍的槍管和內層接合處將被“執行”，直到未發現初始故障模式/機制。

IST HC使用IST技術對試樣進行電循環以確定產品的可靠性。除了支持IPC測試方法2.6.26，最新的IST HC現在還支持IPC測試方法2.6.27來模擬無鉛焊料裝配。 IST HC可以模擬回焊爐和組裝重工站的溫度曲線，以使測試樣板在組裝過程中經受與實際印刷電路板相同的溫度偏移。

IST已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。世界各地的頂級OEM，ODM，CDM，PCB材料和PCB製造商都使用IST技術來測試新的過孔/互連技術，材料和工藝。

該測試系統結合了定制設計的電源和高精度測量系統，這些系統與易於使用的應用軟件相連接，該軟件可以自動測量，記錄，分析帶有顯示和報告的數據，從而簡化了對定制設計測試車間/可靠性的理解。代表實際產品的樣品板

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CAF（導電陽極絲）測試儀

CAF是一款全自動台式CAF測量設備，具有RH控制，溫度控制，V偏置控制，自定義配置文件和遠程報告。

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DELAM-介電質估計和層壓分析測量系統

DELAM自動測量和分析材料特性的變化，這表明損壞是否是由於暴露於與組件組裝和可能的重工相關的高溫引起的

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CIMS HK：自動光學偵測系統 (AOI)

自動光學檢測 (AOI) 對 PCB 製造商至關重要，在此過程中，內外層均需仔細檢測，以確保其功能性和可靠性，從而實現高良率生產。 

CIMS 為 PCB 行業的各個領域提供廣泛的 AOI 系統——從 IC 載板和 HDI、柔性板和剛撓結合板到主流多層板。 CIMS AOI 正在幫助我們的客戶大幅提高 PCB 製造流程的良率，並提升最終產品的品質。我們提供以下各種 

 

型號： 

 

Galaxy 4Cχ 

Galaxy 4Cχ 配備彩色攝影機，旨在支援下一代 IC 載板的大批量生產。它能夠掃描低至 4 µm 的線寬/線距技術。 

 

Galaxy 5Cχ 

Galaxy 5Cχ 配備彩色攝影機，旨在支援高度先進的 IC 載板的大批量生產。它能夠掃描低至 5 µm 的線寬/線距技術。 

 

Galaxy 7Cχ 

Galaxy 7Cχ 配備彩色相機，旨在支援先進 IC 載板的量產。它能夠掃描低至 7 µm 的線寬/線距技術。 

 

Galaxy 10Cχ 

Galaxy 10Cχ 配備彩色相機，旨在支援先進 IC 載板和超細線 HDI 的量產。它能夠掃描低至 10 µm 的線寬/線距技術。 

 

CIMS HK：自動光學/最終/驗證 (AOI/AFI/AVI) 偵測系統（僅限印度）

CIMS AOI、AFI 和 AVI 系統結合 2D 和 3D 計量工具，能夠掃描最小至 4 µm 的線寬，廣泛應用於 PCB 產業的各個領域。 

CIMS HK：人工智慧混合驗證系統

AIVR 4μ 

AIVR，CIMS 人工智慧驗證站，將虛擬驗證和實體驗證功能整合在一個工作站內。 AIVR 4μ 旨在支援 IC 載板的量產，並針對 4 至 15 µm 線寬/線距技術的驗證進行了最佳化。 

 

AIVR 5μ 

AIVR，CIMS 人工智慧驗證站，將虛擬驗證和實體驗證功能整合在一個工作站內。 AIVR 5μ 旨在支援 IC 載板的量產，並針對 5 至 25 µm 線寬/線距技術的驗證進行了最佳化。 

 

AIVR 7μ 

AIVR，CIMS 人工智慧驗證站，將虛擬驗證和實體驗證功能整合在一個工作站內。 AIVR 7μ 旨在支援 IC 載板的量產，並針對 7 至 25 µm 線寬/線距技術的驗證進行了最佳化。 

 

AIVR 10μ 

AIVR，CIMS 人工智慧驗證站，將虛擬驗證和實體驗證功能整合在一個工作站內。 AIVR 10μ 旨在支援 HDI 和 IC 基板的大量製造，並針對 10 ~ 25 µm 線/間距寬度技術的驗證進行了最佳化。 

CIMS HK：混合驗證系統

VVR for ICS 

VVR 是一款 CIMS 混合模式驗證站，將虛擬驗證和實體驗證功能整合在一個工作站中。 VVR for ICS 旨在支援 IC 載板的大規模生產，並針對 4 至 15 µm 線寬/線距技術的驗證進行了最佳化。 

CIMS HK：光刻工具偵測系統

Phoenix PT/Micro 

Phoenix PT/Micro，CIMS 光刻工具 AOI 系統，專為檢測高解析度膠片原圖和玻璃掩模版而設計。它能夠掃描低至 7 µm 的線寬/線距技術。 

 

Phoenix PT+ 

Phoenix PT+，CIMS 光刻工具 AOI 系統，專為檢測高解析度膠片原圖和玻璃遮罩版而設計。它能夠掃描低至 12.5 µm 的線寬/線距技術。