测试

 

AET: Dielectrometer-微波介质表

成功设计高速印刷电路板的关键在于了解正确的介电(Dk)以及用于制造印刷电路板堆栈所使用的预浸材料或核心材料的损耗正切值。目前,设计商 / 制造商主要依靠制造商所提供的材料数据。AET, Inc 推出的微波介电测量仪可利用一个开放式同轴谐振器的衰减模式,对不同形状(包括薄膜)的介电材料进行快速且非破坏性的测量。内建的反馈振荡器电路能够通过简单的操作步骤进行精确测量。由于结合了高 Q 谐振腔、高精度测量算法和三维电磁模拟软件,因此能够实现一流的精度。

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PWB: DELAM – 介電估算及壓板分析量測系統

PWB Interconnect Solutions Inc. 开发出一种可自动测量和分析材料属性变化的工具,能够辨别损坏是否是由于同组件装配和可能的重制有关的温度升高所造成的。此独特技术使其 IST 测试功能更为完善。这项工具所采用的原理已证实是一种有效的方法,可用于确定印刷电路板所采用的材料能否承受在超出材料本身稳健性的温度下的反覆暴露。

该测试系统具备一个高精度的 LCR(电容)计并已连接一个操作简单的应用软件,可自动测量、记录、分析、显示及报告所有关键测试参数。

下载PWB 的 DELAM 测试方法

PWB: IST — 互连应力测试系统

IST 是一种加速应力测试方法,可克服高温烤炉或液体/液体方法的限制,LST拥有有效 / 快速地量化确定镀通孔(Plated Through Hole - PTH)的完整度能力,并通过其独有的功能识别多层板上是否存在后期分离及其级别。IST 可从基板内部建立均匀应变,其分配和再分配该应变的互连功能可提供完整性方面的提示。电镀桶和内层联结点将被“锻炼”,直到找出最初的故障模式/机制为止。

经过数年的密集评估,IPC 已认可 IST 技术作为首个用于评估镀通孔完整性及探测后期分离的电力测试法。IST 测试法已于 IPC-TM-650 测试方法手册中发表。

IST 已成为通孔和材料可靠性的领先测试标准。全球领先的 OEM、ODM、CDM、材料及 PCB 制造商均采用 IST 技术来测试新材料和程序。

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IST-HC - 全新的八头双向感应IST高容量系统。欲知更多详情,请联系我们。联系我们 IST-HC 规格。

POLAR: CITS880-可控阻抗测试系统解决方案

CITS880 系统是 Polar 的第 8 代阻抗测试系统,对于可控阻抗的新手入门客户来说,它是最受欢迎的系统型号。它采用通过验证且强大的TDR机头技术来测量快速脉冲信号的反射,并提供一个显示迹线阻抗参数的人性化图形界面。CITS880 拥有 4 个可灵活连接探测器的标准通道,对差分及单端迹线进行高精确度并可重复的阻抗测量。

现在还可选择Polarcare 及 Polarprotect 保障计划来延长对静电放电(ESD)敏感的系统的保修和支持。下载 手册

点击此处 可查阅 CITS880 的最新功能

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POLAR:新CITS880s - 可控阻抗测试系统解决方案

CITS880s系统是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗测试系统。这是给需要精细测量的轨迹及薄铜阻抗的解决方案。 CITS880s设有Launch Point Extrapolation (LPE),外接的TDR能够更准确地测量线路的瞬时或阻抗的开始。 除了Launch Point Extrapolation (LPE)外,CITS880s也能够检测shorter traces - 通常为2至3英寸比前几代CITS系列较为短。 CITS880s现在提供重新设计且由防静电耗材精密成型制造的IPS和IPDS高速探棒。以给CITS给予最大程度的保护。

Polar的IPS和IPDS高速探棒,是专门设计用于CITS880s。他们修改了内部,使用更坚固的机械设计及改进了信号路径,符合人体工程学并使用100%的防静电耗材的精密模压成型。 IPS和IPDS探针与前一代的探针容易地识别,使用蓝色标签及蓝色的对比抗蚀探针于探棒接口上。 

点击这里看看有什么新的CITS880s

POLAR: ATLAS – 印刷电路板插入损耗测量系统

ATLAS – 衰减损耗分析系统是一个全新的测试解决方案,可供 PCB 制造商在管控严格的生产环境中测试 PCB 传输线的损耗。 ATLAS 2013 现在包含一个专用的智能型静电放电(ESD)保护装置、符合人体工学设计的全新探针外壳以及提供多项全新增强功能的最新版( 13.04版本)软件。ATLAS 13.04 软件可与业界标准的 Tektronix DSA8300 示波器 TDR 连接,并支持INTEL 的SET2DIL(Single Ended TDR to Differential Insertion Loss - 单端 TDR 到单端插入损耗)测试方法,以便从单端测试和设计合适的测试条提取差分插入损耗。Atlas 2013 可兼容I IBM的SPP(Short Pulse Propagation - 短脉冲传输)测试方法,并可升级至该测试方法。此系统也可作为ATLAS PCB使用,以使用 Tektronix TDR 执行业界标准的 CITS 式可控阻抗测试。

System configurations:

ATLAS – 包含 HF 探测器和损耗测试标准的 Atlas 软件。
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C Gen Plus—用于 SET2DIL损耗条的自动测试条生成器。
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Atlas Si 搭配 ANRITSU VNA

Atlas for Anritsu VNA符合IPC TM650 2.5.5.12(确定印刷电路板上信号损耗量的测试方法),并为Delta-L方法提供了支持。

Atlas Si是一种精密的插入损耗测量套件,专门为PCB制造商和OEM设计。它提供了基于频率的传输线损耗的准确,可重复的测量,从而使制造商能够满足将信号完整性保持在最新43 Ghz高速芯片组范围内的严格目标。

注意:产品交付2020年7月开始。

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IHARA: ACCULINE - 便携式线宽及间距测量

Polar Instruments Asia Pacific 与日本 Ihara 公司合作开发的 ACCULINE 是一个真正便携、轻巧、采用电池供电的数字线宽及间距测量系统。ACCULINE 内建的彩色 LCD 显示屏可让操作人员快速、准确且可重复的地测量细线单端及差分可控阻抗迹线的顶线和底线的线宽及间距。

ACCULINE 是一款高性能的可靠产品,采用先进的微电脑技术及彩色 LCD 图像传感器以确保优异的性能和测量可靠性。此工具采用电池供电,因此可提供在任何地点(包括能见度较低的暗室)都能轻松操作的真正便携性能。宽大的 LCD 显示屏可显示实际的线路图像,并可利用 USB 连接端口传输至电脑进行进一步的分析。

通常操作人员使用显微镜获得的测量结果取决于其本身的技术,因此不同的操作人员测出的结果可能有所差异。ACCULINE 的自动化测量算法可轻易提供准确并可重复的结果。

 

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Front Range Probe Stations llc: 移动探头TM工作站

Front Range提供了一系列的探头和检查站,可以用快速的适应性强的方法检查电路卡片和模块。移动探头的设计使其能够满足高频电测的需求,适用于目前的多种信号探测,检测包括裸板材料和高速电路板和模块,是一个负担得起的系统和具有成本效益的解决方案。

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COMPIX 222 型 – 放射性热成像摄影机

222 是一款经过校准的放射性实时热成像摄影机。它所需的电力不多,也不需要低温冷却。它采用一个非晶矽微测仪并可提供 160x120 像素的图片。

在 IST 评估过程中,电路的电阻一旦增加达 10% 时,测试便会自动停止。故障的阻抗条的电路仍具有导电性,但电阻不会增加太多。现在,由于测试已在事前阻止了灾难性故障的发生,因此仍可使用热成像技术精确识别出为电路产生最大电阻值的微导通孔。

此程序被称为「故障点定位」并涉及 222的使用。由于故障电路的电阻只出现 10% 的变化,因此可利用直流电流将故障的互连线路加热。有问题的微导通孔具有比其他连接迹线更高的电阻,因此会成为阻抗条中最热的部分。222 热成像摄影机可直接显现最热的微导通孔的精确位置。最严重故障的微导通孔表面将呈现为高温热点,这使得 COMPIX 222 成为一个强大的工具。

 

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AET: 高频探头车站PCB上的损耗测量

测量印刷电路板、连接器及集成电路的损耗时需要小心设置高频探针,以确保可使用向量网络分析仪(Vector Network Analyser - VNA)或时域反射计(Time Domain Refelectometer - TDR)获取准确的测量结果。AET, Inc. 推出的探测台配备一个探测台和一个微型定位仪,能够依 X-Y-Z-theta 方向进行调整,还可以探测不同形状与尺寸的样品。定制设计的固定探测装置可使用气动共面探针、半刚性探针或差分主动式探针。TRL/LRM 校正套件已设计并制造出。此探测台可用于测量印刷电路板和射频电路半导体晶片的损耗。

 

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Polar UK: Atlas Si – 针对PCB制造商和Si工程师的PCB插入损耗测试

Polar Atlas软件使PCB制造商能够在严格控制的生产环境中测试PCB传输线的损耗。当与适当设计的测试样片和Atlas精密GHz探头组件结合使用时,Atlas采用数学处理技术*提取与频率有关的损耗特性。

Atlas软件包可与行业标准的Tektronix DSA8300或DSA8200示波器TDR进行接口。制造商可以选择将Atlas添加到他们现有的Tek DSA中, 也可以选择Polar提供全套解决方案。

Atlas支持多种测试方法,包括Delta-L,Delta-L 3 Line,SET2DIL(单端TDR到差分插入损耗),用于从单端测试和经过适当设计的试样中提取差分插入损耗和有效Er,SET2SEIL方法(单个端TDR到单端插入损耗),用于IPC-TM-650所要求的单端插入损耗测试和SPP(短脉冲传播)方法

主要特点

  • Atlas软件旨在帮助PCB制造商在PCB生产环境中准确,可重复地测量PCB传输线损耗。
  • 符合人体工程学的探头外壳:
  •  跟踪系统上升时间并监视系统带宽。
  • Delta-L-Atlas支持Delta-L技术(v16_04完全将Delta-L的rev2p31与当前设置和参数结合在一起),该技术使用长线短线测量与创新的去嵌入技术相结合,Delta-L提供了确定原始PCB插入损耗的合理方法,可消除差动(混合模式)s参数的过孔影响。
  • SET2DIL / SET2SEIL-Atlas测试方法还包括SET2DIL(单端TDR到差分插入损耗)和SET2SEIL(单端TDR到单端插入损耗)测试方法,用于从单端测量中提取差分插入损耗。
  • SPP –短脉冲传播-SPP允许提取影响信号传播的PCB电气特性;它使用您现有的TDR / TDT设备,并产生与频率有关的参数,例如传播常数(α,衰减和β,相位常数)和有效介电常数,以及特征阻抗(包括偶数和奇数模式阻抗)。Atlas测量包括发射点外推/长线回归拟合。
  • 受控阻抗测试-Atlas GHz测试软件还可以进行传统的无损受控阻抗测试

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PWB: IST HC - 互连压力测试系统

 

互连应力测试或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.开发的一种加速应力测试方法,它克服了热烘箱或液体/液体测试方法的局限性。它具有有效,快速地量化包括微孔在内的不同类型通孔完整性的能力。IST从基板内部产生均匀的应变,并且互连能力可以分配和重新分配此应变,这表明完整性。电镀的枪管和内层接合处将被“执行”,直到未发现初始故障模式/机制。

IST HC使用IST技术对试样进行电循环以确定产品的可靠性。除了支持IPC测试方法2.6.26,最新的IST HC现在还支持IPC测试方法2.6.27来模拟无铅焊料装配。IST HC可以模拟回流炉和组装返工站的温度曲线,以使测试样板在组装过程中经受与实际印刷电路板相同的温度偏移。

IST已成为通孔和材料可靠性的领先测试标准。世界各地的顶级OEM,ODM,CDM,PCB材料和PCB制造商都使用IST技术来测试新的过孔/互连技术,材料和工艺。

该测试系统结合了定制设计的电源和高精度测量系统,这些系统与易于使用的应用软件相连接,该软件可以自动测量,记录,分析带有显示和报告的数据,从而简化了对定制设计测试可靠性的理解,代表实际产品的测试样品。

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CAF(导电阳极丝)测试仪

CAF是一款全自动台式CAF测量设备,具有RH控制,温度控制,V偏压控制,自定义配置文件和远程报告功能。

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DELAM-介电估计和层压分析测量系统
DELAM自动测量和分析材料特性的变化,这表明损坏是否是由于暴露于与组件组装和可能的返工相关的高温引起的

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Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自动阻抗测量系统

RITS 550使行业标准CITS880s(受控阻抗测试系统)自动化,从而可以快速,可重复地对试样和PCB进行体积测试。该系统通过易于使用的Windows软件进行控制。测试设置简单明了,结果数据以可访问的格式自动记录,并且有内置的报告生成器选项。

准确性,可追溯的测量RITS550使用成熟的时域反射仪(TDR)技术来测量快速上升时间脉冲的反射。高精度参考航空公司-可追溯到NPL和NIST 标准-确保可重复的测量精度,以控制跟踪阻抗

RITS550飞行探针技术的测试时间与基于夹具的系统一样快,可提供无与伦比的测量可重复性,而终身拥有成本仅为基于夹具的系统的一个小部分。RITS550理想地适合COUPON测试或体积小板测试。

RITS880是按订单制造的自动阻抗测量系统,它是RITS550的较大版本。 它可以合并完整尺寸的面板,并可以配备自动上/下板机, 以提供用于阻抗测试的完全自动化。

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Ihara: ACCULINE II - 便携式线宽和间距测量

日本Ihara Electronics Co. Ltd.推出了ACCULINE II,这是一款真正的便携式,轻便,电池供电的数字线宽和间距测量系统。ACCULINE的内置彩色LCD显示屏使操作员可以快速,准确和可重复地测量顶线和底线的宽度以及细线单端和差分控制阻抗迹线的间距。

ACCULINE II是高性能和可靠的产品,它利用先进的微型计算机技术和彩色LCD图像传感器来确保卓越的性能和测量可靠性。它是一种电池供电的工具,具有真正的便携式功能,可在包括可见度低的黑暗房间在内的任何位置轻松操作。大型LCD可以显示真实的线条图像,可以使用USB端口将其传输到PC进行进一步分析。

通常,操作员依赖于使用显微镜进行测量的技能,这可能导致不同操作员得到不同的结果。ACCULINE的自动测量算法可提供准确而可重复的结果。

                                                                                                             

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C.L. Tech: 通用网格系统–开放式短路测试仪(仅在印度)

凭借30多年的经验和知识,CL Tech提供了全方位的通用网格系统,可以灵活地使用市场上大多数的夹具模型和数据准备。该系统的量身定制的电子设备提供了机械强度,速度和可靠性。

我们的通用网格机具有两种技术:

  • 插件:扫描板集成在测试区域中。
  • 有线:​​扫描仪板通过电线连接到测试区域。

GT20-20和Valid8机器使用集成在测试区域中的测试板,而Precise和Micro使用朝向测试区域的电线连接。

GT20-20可以配备用于安装和卸载的自动皮带系统,可以在现场安装。这使机器可以达到每小时1.000 PCB /小时的生产率,或者使用自动臂系统达到450 PCB /小时的速度。对于任何提到的密度,可用的测试区域为12.8“ x 11.2” e 16.8“ x 12.8”。其他测试区域配置可按需提供。

对于任何密度,Valid8的最大测试区域为19,2“ x 16”。下级和上级活动区域。它是一个用于测试大型PCB的系统,该PCB具有大量测试点,例如背板,服务器板,母板等。

即使在客户要求下,最大测试面积为24“ x 20”,并且测试点的数量为48.000(每个测试区域),任何网格步骤都可以提供精确的测量结果。

Micro可提供单密度或双密度网格。最大测试区域为365mm x 284mm(14.4“ x 11.2”),最大测试点数为32.256(用于测试区域)。

 

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C.L. Tech: 飞针测试仪–开放式短路测试(仅在印度)

CL TECH提供了全方位的飞针,能够满足客户的需求。

精确的飞针测试仪系列从FB2 Plus +系统开始,该解决方案适合那些需要在不影响质量和性能的情况下节省预算的人,它的XL和XXL版本可以测试最大1.200mm的大型电路;范围达到FP8,采用花岗岩框架以确保最高的速度和精度,能够使用最小38μm(1.5mil)的测试垫测试高密度电路

所有飞行探针系统都可以通过TFI功能(测试平台集成)与通用网格系统完美集成,从而可以充分利用两种产品提供的协同作用,例如组合测试,重新测试,错误检查等

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