测试

 

AET: Dielectrometer-微波介質表

成功設計高速 PCB 的關鍵在於瞭解正確的介電(Dielectric - Dk)以及製造 PCB 疊構所使用的預浸材料或核心材料的損耗正切值。目前,設計商 / 製造商主要依靠製造商所提供的材料數據。AET, Inc 所推出的微波介電測量計可利用一個開放式同軸諧振器的衰減模式,對不同形狀(包括薄膜)的介電材料進行快速且非破壞性測量。內建的反饋式振盪器電路可經由簡單的操作步驟提供精確測量。由於結合了高 Q 諧振腔、高精度量測演算系統以及 3D 電磁模擬軟體,因此能夠達到一流的準確度。

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PWB: DELAM – 介電估算及壓板分析量測系統

PWB Interconnect Solutions Inc. 開發出了一種可自動測量和分析材料屬性變化的工具,能夠辨別損壞是否是由於暴露在與零件組裝及可能的重製有關的溫度升高所造成。此獨特技術使其 IST 測試功能更為完善。這項工具所採用的原理已證實為一種有效的方法,用以確定印刷電路板所採用的材料能否承受反覆暴露在超出材料本身堅固性的溫度中。

該測試系統具備一個高精度的 LCR(電容)計並已連接一個操作簡單的應用軟體,可自動測量、記錄、分析、顯示及報告所有關鍵測試參數。

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PWB: IST — 互連應力測試系統

IST 是一種加速應力測試方法,可克服高溫烤爐或液體/液體方法的限制,有效 / 快速地量化確定鍍通孔(PTH)的完整度,並透過其獨有的功能識別多層板上是否存在後期分離及其級別。ISTIST 可從基板內部建立均勻應變,其分配與再分配此應變的互連功能可提供完整性方面的提示。電鍍桶和內層結合點將被「操練」,直到找出初期故障模式/機制為止。

經過數年的密集評估,IPC 已認可 IST 技術為首個用於評估鍍通孔完整性及探測後期分離的電力測試法。IST 測試法已於 IPC-TM-650 測試方法手冊中發表。

IST 已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。全球領先的 OEM、ODM、CDM、材料及 PCB 製造商均採用 IST 技術來測試新材料和程序。

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IST-HC – 全新的八頭雙向感測 IST 高容量系統。欲瞭解更多詳情,請聯絡我們。聯絡我們 IST-HC 規格。

POLAR: CITS880-可控阻抗測試系統解決方案

CITS880 系統是Polar 的第 8 代阻抗測試系統,它是對於可控制阻抗的新手入門客戶來說最受歡迎的系統型號。它採用通過驗證且強大的TDR機頭技術來測量快速脈衝訊號的反射,並提供一個顯示跡線阻抗參數的人性化圖形界面。CITS880 具有 4 個可靈活連接探測器的通道,可同時提供差動和單端量測功能。

現在還可選擇 Polarcare 保障計劃來延長對靜電放電(ESD)敏感的系統的保固和支援。下載 手冊

點選此處 可查閱 CITS880 的最新功能

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POLAR:新CITS880s - 可控阻抗测试系统解决方案

CITS880s系统是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗测试系统。这是给需要精细测量的轨迹及薄铜阻抗的解决方案。 CITS880s设有Launch Point Extrapolation (LPE),外接的TDR能够更准确地测量线路的瞬时或阻抗的开始。 除了Launch Point Extrapolation (LPE)外,CITS880s也能够检测shorter traces - 通常为2至3英寸比前几代CITS系列较为短。 CITS880s现在提供重新设计且由防静电耗材精密成型制造的IPS和IPDS高速探棒。以给CITS给予最大程度的保护。

Polar的IPS和IPDS高速探棒,是专门设计用于CITS880s。他们修改了内部,使用更坚固的机械设计及改进了信号路径,符合人体工程学并使用100%的防静电耗材的精密模压成型。 IPS和IPDS探针与前一代的探针容易地识别,使用蓝色标签及蓝色的对比抗蚀探针于探棒接口上。 

点击这里看看有什么新的CITS880s

POLAR: ATLAS – 印刷電路板插入損耗量測系統

ATLAS – 衰減損耗分析系統是一個全新的測試解決方案,可供 PCB 製造商在管控嚴格的生產環境中測試 PCB 傳輸線的損耗。 ATLAS 2013 現包含一個專用的智慧型靜電放電(ESD)保護裝置、符合人體工學設計的全新探測器殼體以及提供多項全新增強功能的最新版本 13.04 軟體。ATLAS 13.04 軟體可與業界標準的 Tektronix DSA8300 示波器 TDR 接合,並支援 INTEL 的SET2DIL(Single Ended TDR to Differential Insertion Loss - 單端 TDR 到差動插入損耗)測試方法,以便從單端測試和設計合適的測試條擷取差動插入損耗。Atlas 2013 可相容於並可升級至IBM 即將推出的SPP(Short Pulse Propagation - 短脈衝傳播)測試方法。此系統也可作為ATLAS PCB使用,以利用 Tektronix TDR 執行業界標準的 CITS 式可控制阻抗測試。

System configurations:

ATLAS – 包含 HF 探測器和損耗測試標準的 Atlas 軟體。
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C Gen Plus—用於 SET2DIL 損耗條的自動測試條產生器。
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Atlas Si for ANRITSU VNA

適用於ANRITSU VNA的Atlas符合IPC TM650 2.5.5.12(確定高速印刷電路板上信號損失量的測試方法),並為INTEL的最新一代Delta-L測試方法提供了支持。

Atlas Si是專為PCB製造商和OEM設計的高精度插入損耗測量套件。 它提供了基於頻率的傳輸線損耗的準確,可重複的測量,使製造商能夠滿足嚴格的目標,即在運行高達43 GHz高速信號的最新高速芯片組的範圍內保持信號完整性。

注意:產品交貨將於2020年7月開始。

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IHARA: ACCULINE – 可攜式線寬及間距量測

Polar Instruments Asia Pacific 與日本 Ihara 公司合作開發的 ACCULINE 是一個真正便攜、輕巧、採電池供電的數位線寬及間距量測系統。ACCULINE 內建的彩色 LCD 顯示幕可讓操作人員快速、準確且反覆地測量細線單端及差動可控制阻抗跡線線路的頂線和底線線寬和間距。
 
ACCULINE 是一款高性能且可靠的產品,採用先進的微電腦技術及彩色 LCD 影像感測器確保優異的性能與量測可靠性。此工具採用電池供電,因此可提供在任何地點(包括能見度低的暗室)都能輕鬆操作的真正便攜設備。寬大的 LCD 顯示幕可顯示實際的線路影像,並可利用 USB 連接埠傳送至個人電腦進行進一步的分析。

通常操作人員在使用顯微鏡進行測量時須依賴其本身的技術,因此不同的操作人員測出的結果可能有所差異;而 ACCULINE 的自動化量測演算系統可輕易提供準確並可重覆的結果。

 

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Front Range Probe Stations llc: 移动探头TM工作站

Front Range提供了一系列的探头和检查站,可以用快速的适应性强的方法检查电路卡片和模块。移动探头的设计使其能够满足高频电测的需求,适用于目前的多种信号探测,检测包括裸板材料和高速电路板和模块,是一个负担得起的系统和具有成本效益的解决方案。

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COMPIX 222 機型 – 輻射熱成像攝影機

222 是一款經過校準的輻射實時熱成像攝影機。它所需的電力不多,也不需要低溫冷卻。它採用一個非晶矽微輻射熱測定計偵測器並可提供 160x120 畫素的影像。

在 IST 評估過程中,電路的電阻一旦增加達 10% 時,測試便會自動停止。故障的阻抗條的電路仍具有導電性,但電阻不會增加太多。現在,由於測試在災難性故障發生前便已停止,因此仍可使用熱成像技術精確辨識出為電路帶來最大電阻的微孔。

此程序被稱為「故障點定位」並涉及 222 攝影機的使用。由於故障的電路的電阻只出現 10% 的變化,因此可利用直流電流將故障的互連線路加熱。有問題的微孔具有比其他連接跡線更高的電阻,因此會成為阻抗條中最熱的結構。222 熱成像攝影機可直接顯現最熱的微孔的精確位置。 最嚴重故障的微孔將顯示為表面上的高溫熱點,因此使 COMPIX 222 成為一個強大的工具。

 

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AET: 高頻探頭車站PCB上的損耗測量

測量 PCB、連接器及 IC 的損耗時需要謹慎設置高頻率的探針,以確保可使用向量網路分析儀(Vector Network Analyser - VNA)或時域反射儀(Time Domain Refelectometer - TDR)獲取準確的測量結果。AET, Inc. 所推出的探測台具備一個探測台及一個微型定位器,能夠依 X-Y-Z-theta 方向進行調整,還可以探測不同形狀與尺寸的樣品。訂製設計的固定探測裝置可使用氣動共面探針、半硬式探針或差動主動式探針,並已設計及製造出一個 TRL/LRM 校正套件。此探測台可用於測量 PCB 和 RF 電路半導體晶片的損耗。

 

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Polar UK: Atlas Si – 針對PCB製造商和Si工程師的PCB插入損耗測試

POLAR Atlas軟件使PCB製造商能夠在嚴格控制的生產環境中測試PCB傳輸線的損耗。 當與適當定制設計的測試樣片和高頻高精度GHz探頭組件結合使用時,Atlas採用數學處理技術*提取與頻率有關的損耗特性。

Atlas軟件包可與行業標準TEKTRONIX DSA8300或DSA8200基於示波器的TDR接口。 製造商可以選擇將Atlas添加到他們現有的TEKTRONIX DSA中,或者POLAR可以提供turnkey package。

Atlas支持多種測試方法,包括INTEL的Delta-L,Delta-L 3線路,SET2DIL(單端TDR到差分插入損耗),用於從差分4端口測試或SET2SEIL(單端)提取差分插入損耗和有效Er。 TDR到單端插入損耗)方法。 此外,Atlas還支持IBM的SPP(短脈衝傳播)方法以減少損耗並有效提取Er。 IPC-TM-650中概述了所有需要測試的,定制的OEM指定的測試和測試車間測試樣品板詳細信息。

Atlas的主要特點

  • Atlas軟體旨在協助PCB製造商在PCB生產環境中準確,可重複地測量PCB傳輸線損耗。
  • 符合人體工程學的探頭外殼
  • 跟踪系統上升時間並監視系統帶寬。
  • Delta-L技術(v16_04將Delta-L的rev2p31與當前設置和參數完全結合在一起)使用長線短線測量與創新的過孔去嵌入技術相結合,Delta-L提供了一種消除過孔效果的可靠方法 表徵原始PCB的插入損耗時,根據差分(混合模式)s參數得出的誤差。
  • SET2DIL / SET2SEIL-Atlas測試方法還包括SET2DIL(單端TDR到差分插入損耗)和SET2SEIL(單端TDR到單端插入損耗)測試方法,用於從單端測量中提取差分插入損耗。
  • SPP –短脈衝傳播-SPP允許提取影響信號傳播的PCB電氣特性; 它使用您現有的TDR / TDT設備,並產生與頻率相關的參數,例如傳播常數(α,衰減和β,相位常數)和有效介電常數,以及特徵阻抗(包括偶數和奇數模式阻抗)。Atlas測量包括launch point exrrapolation/長線回歸fit。
  • 控制阻抗測試-Atlas GHz測試軟件還可以進行傳統的無損控制阻抗測試

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PWB: IST HC- 互連壓力測試系統

互連應力測試或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.開發的一種加速應力測試方法,它克服了熱烘箱或液體/液體測試方法的局限性。它具有有效,快速地量化包括微孔在內的不同類型通孔完整性的能力。 IST從基板內部產生均勻的應變,並且互連能力可以分配和重新分配此應變,這表明完整性。電鍍的槍管和內層接合處將被“執行”,直到未發現初始故障模式/機制。

IST HC使用IST技術對試樣進行電循環以確定產品的可靠性。除了支持IPC測試方法2.6.26,最新的IST HC現在還支持IPC測試方法2.6.27來模擬無鉛焊料裝配。 IST HC可以模擬回焊爐和組裝重工站的溫度曲線,以使測試樣板在組裝過程中經受與實際印刷電路板相同的溫度偏移。

IST已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。世界各地的頂級OEM,ODM,CDM,PCB材料和PCB製造商都使用IST技術來測試新的過孔/互連技術,材料和工藝。

該測試系統結合了定制設計的電源和高精度測量系統,這些系統與易於使用的應用軟件相連接,該軟件可以自動測量,記錄,分析帶有顯示和報告的數據,從而簡化了對定制設計測試車間/可靠性的理解。代表實際產品的樣品板

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CAF(導電陽極絲)測試儀

CAF是一款全自動台式CAF測量設備,具有RH控制,溫度控制,V偏置控制,自定義配置文件和遠程報告。

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DELAM-介電質估計和層壓分析測量系統

DELAM自動測量和分析材料特性的變化,這表明損壞是否是由於暴露於與組件組裝和可能的重工相關的高溫引起的

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Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自動化特性阻抗測量系統

奧地利POLAR GMBH製造的RITS550使行業標準CITS880s(受控阻抗測試系統)自動化,從而可以快速,可重複地對試樣和PCB進行樣品板測試。該系統通過易於使用的Windows軟件進行控制。測試設置簡單明了,結果數據以可訪問的格式自動記錄,並且有內置的報告生成器選項。

準確,可追溯的測量RITS550使用成熟的時域反射儀(TDR)技術來測量快速上升時間脈衝的反射。高精度參考空氣芯-可追溯到NPL(英國國家物理實驗室)和NIST(美國國家標準與測試研究所)標準,可確保可重複的測量精度以控制線路阻抗。

RITS550飛行探針技術的測試時間與基於夾具的系統一樣快,可提供無與倫比的測量可重複性,而終身擁有成本僅為基於夾具的系統的一小部分。 RITS550非常適合於試樣測試或小尺寸電路板測試。

RITS880自動阻抗測量系統是一個大型平台,可容納按需定制的全尺寸PCB面板。它可以合併全尺寸的面板(是RITS550的較大版本),並且可以選擇配備自動上/下板機,從而為阻抗測試提供完全自動化的功能。

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C.L. Tech: 通用網格系統(UGS)–開路短路測試儀(僅在印度提供)

擁有30多年的經驗和知識Tech提供全系列的通用網格系統,可以靈活地使用市場上大多數的夾具模型和數據準備。該系統的量身定制的電子設備可提供機械強度,速度和可靠性。

通用網格機提供兩種技術:

  • 插件:掃描儀板集成在測試區域中。
  • 有線:掃描儀板通過電線連接到測試區域。

GT20-20和Valid8機器使用集成在測試區域中的測試板,而Precise和Micro使用朝向測試區域的電線連接。

GT20-20可以配備用於安裝和卸載的自動皮帶系統,可以在現場安裝。這使機器可以達到每小時1,000 PCB / h的生產率,或者使用自動臂系統達到450 PCB / h的速度。對於任何提到的密度,可用的測試區域為325mm X 285mm(12.8“ x 11.2”),427mm X 325mm(16.8“ x 12.8”)。其他測試區域配置可按需提供。

對於任何密度,Valid8的最大測試面積為488mm X 406mm(19.2“ x 16”)。 下級和上級活動區域。 它是為測試大型PCB格式而開發的系統,具有大量測試點,如背板,服務器板,母板等。

即使在定制要求下,任何網格step都可以提供精確的測量結果,最大測試區域為610mm X 508mm(24“ x 20”),測試點的數量為48.000(每個測試區域)。

Micro可提供單密度或雙密度網格。 最大測試區域為365mm x 284mm(14.4“ x 11.2”),最大測試點數為32.256(用於測試區域)。

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C.L. Tech: 飛探針測試儀(FPT)–開路短路測試(僅在印度提供)

C.L. TECH提供了一系列可以滿足客戶需求的Flying Probes開放式短路測試儀。

精密飛針測試儀的範圍從FP2 Plus +系統開始,該解決方案適用於那些希望在不放棄質量和性能的情況下謹慎對待預算的人。 XL和XXL版本用於測試最大1.200 mm的大型電路; 範圍達到FP8,採用花崗岩框架以確保最高的速度和精度,它能夠使用測試點測試最小38μm(150 mil)的高密度電路

所有飛針系統都可以通過TFI(測試平台集成)功能與通用網格系統集成,從而可以充分利用兩種產品提供的協同作用,例如組合測試,重新測試,錯誤檢查, 等等

 

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