测试

 

Front Range Probe Stations llc: 移动探头TM工作站

Front Range提供了一系列的探头和检查站,可以用快速的适应性强的方法检查电路卡片和模块。移动探头的设计使其能够满足高频电测的需求,适用于目前的多种信号探测,检测包括裸板材料和高速电路板和模块,是一个负担得起的系统和具有成本效益的解决方案。

下載手冊

COMPIX 222 機型 – 輻射熱成像攝影機

222 是一款經過校準的輻射實時熱成像攝影機。它所需的電力不多,也不需要低溫冷卻。它採用一個非晶矽微輻射熱測定計偵測器並可提供 160x120 畫素的影像。

在 IST 評估過程中,電路的電阻一旦增加達 10% 時,測試便會自動停止。故障的阻抗條的電路仍具有導電性,但電阻不會增加太多。現在,由於測試在災難性故障發生前便已停止,因此仍可使用熱成像技術精確辨識出為電路帶來最大電阻的微孔。

此程序被稱為「故障點定位」並涉及 222 攝影機的使用。由於故障的電路的電阻只出現 10% 的變化,因此可利用直流電流將故障的互連線路加熱。有問題的微孔具有比其他連接跡線更高的電阻,因此會成為阻抗條中最熱的結構。222 熱成像攝影機可直接顯現最熱的微孔的精確位置。 最嚴重故障的微孔將顯示為表面上的高溫熱點,因此使 COMPIX 222 成為一個強大的工具。

 

下載手冊

AET: 高頻探頭車站PCB上的損耗測量

測量 PCB、連接器及 IC 的損耗時需要謹慎設置高頻率的探針,以確保可使用向量網路分析儀(Vector Network Analyser - VNA)或時域反射儀(Time Domain Refelectometer - TDR)獲取準確的測量結果。AET, Inc. 所推出的探測台具備一個探測台及一個微型定位器,能夠依 X-Y-Z-theta 方向進行調整,還可以探測不同形狀與尺寸的樣品。訂製設計的固定探測裝置可使用氣動共面探針、半硬式探針或差動主動式探針,並已設計及製造出一個 TRL/LRM 校正套件。此探測台可用於測量 PCB 和 RF 電路半導體晶片的損耗。

 

下載手冊

AET: Dielectrometer-微波介質表

成功設計高速 PCB 的關鍵在於瞭解正確的介電(Dielectric - Dk)以及製造 PCB 疊構所使用的預浸材料或核心材料的損耗正切值。目前,設計商 / 製造商主要依靠製造商所提供的材料數據。AET, Inc 所推出的微波介電測量計可利用一個開放式同軸諧振器的衰減模式,對不同形狀(包括薄膜)的介電材料進行快速且非破壞性測量。內建的反饋式振盪器電路可經由簡單的操作步驟提供精確測量。由於結合了高 Q 諧振腔、高精度量測演算系統以及 3D 電磁模擬軟體,因此能夠達到一流的準確度。

下載手冊

PWB: DELAM – 介電估算及壓板分析量測系統

PWB Interconnect Solutions Inc. 開發出了一種可自動測量和分析材料屬性變化的工具,能夠辨別損壞是否是由於暴露在與零件組裝及可能的重製有關的溫度升高所造成。此獨特技術使其 IST 測試功能更為完善。這項工具所採用的原理已證實為一種有效的方法,用以確定印刷電路板所採用的材料能否承受反覆暴露在超出材料本身堅固性的溫度中。

該測試系統具備一個高精度的 LCR(電容)計並已連接一個操作簡單的應用軟體,可自動測量、記錄、分析、顯示及報告所有關鍵測試參數。

下載 PWB 的 DELAM 測試方法

PWB: IST — 互連應力測試系統

IST 是一種加速應力測試方法,可克服高溫烤爐或液體/液體方法的限制,有效 / 快速地量化確定鍍通孔(PTH)的完整度,並透過其獨有的功能識別多層板上是否存在後期分離及其級別。ISTIST 可從基板內部建立均勻應變,其分配與再分配此應變的互連功能可提供完整性方面的提示。電鍍桶和內層結合點將被「操練」,直到找出初期故障模式/機制為止。

經過數年的密集評估,IPC 已認可 IST 技術為首個用於評估鍍通孔完整性及探測後期分離的電力測試法。IST 測試法已於 IPC-TM-650 測試方法手冊中發表。

IST 已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。全球領先的 OEM、ODM、CDM、材料及 PCB 製造商均採用 IST 技術來測試新材料和程序。

下載  IST 手冊

下載 IPC-TM-650 測試方法

IST-HC – 全新的八頭雙向感測 IST 高容量系統。欲瞭解更多詳情,請聯絡我們。聯絡我們 IST-HC 規格。

POLAR: CITS880-可控阻抗測試系統解決方案

CITS880 系統是Polar 的第 8 代阻抗測試系統,它是對於可控制阻抗的新手入門客戶來說最受歡迎的系統型號。它採用通過驗證且強大的TDR機頭技術來測量快速脈衝訊號的反射,並提供一個顯示跡線阻抗參數的人性化圖形界面。CITS880 具有 4 個可靈活連接探測器的通道,可同時提供差動和單端量測功能。

現在還可選擇 Polarcare 保障計劃來延長對靜電放電(ESD)敏感的系統的保固和支援。下載 手冊

點選此處 可查閱 CITS880 的最新功能

下載CITS880手冊

POLAR:新CITS880s - 可控阻抗测试系统解决方案

CITS880s系统是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗测试系统。这是给需要精细测量的轨迹及薄铜阻抗的解决方案。 CITS880s设有Launch Point Extrapolation (LPE),外接的TDR能够更准确地测量线路的瞬时或阻抗的开始。 除了Launch Point Extrapolation (LPE)外,CITS880s也能够检测shorter traces - 通常为2至3英寸比前几代CITS系列较为短。 CITS880s现在提供重新设计且由防静电耗材精密成型制造的IPS和IPDS高速探棒。以给CITS给予最大程度的保护。

Polar的IPS和IPDS高速探棒,是专门设计用于CITS880s。他们修改了内部,使用更坚固的机械设计及改进了信号路径,符合人体工程学并使用100%的防静电耗材的精密模压成型。 IPS和IPDS探针与前一代的探针容易地识别,使用蓝色标签及蓝色的对比抗蚀探针于探棒接口上。 

点击这里看看有什么新的CITS880s

POLAR: ATLAS – 印刷電路板插入損耗量測系統

ATLAS – 衰減損耗分析系統是一個全新的測試解決方案,可供 PCB 製造商在管控嚴格的生產環境中測試 PCB 傳輸線的損耗。 ATLAS 2013 現包含一個專用的智慧型靜電放電(ESD)保護裝置、符合人體工學設計的全新探測器殼體以及提供多項全新增強功能的最新版本 13.04 軟體。ATLAS 13.04 軟體可與業界標準的 Tektronix DSA8300 示波器 TDR 接合,並支援 INTEL 的SET2DIL(Single Ended TDR to Differential Insertion Loss - 單端 TDR 到差動插入損耗)測試方法,以便從單端測試和設計合適的測試條擷取差動插入損耗。Atlas 2013 可相容於並可升級至IBM 即將推出的SPP(Short Pulse Propagation - 短脈衝傳播)測試方法。此系統也可作為ATLAS PCB使用,以利用 Tektronix TDR 執行業界標準的 CITS 式可控制阻抗測試。

System configurations:

ATLAS – 包含 HF 探測器和損耗測試標準的 Atlas 軟體。
下載 手冊
C Gen Plus—用於 SET2DIL 損耗條的自動測試條產生器。
下載 手冊

IHARA: ACCULINE – 可攜式線寬及間距量測

Polar Instruments Asia Pacific 與日本 Ihara 公司合作開發的 ACCULINE 是一個真正便攜、輕巧、採電池供電的數位線寬及間距量測系統。ACCULINE 內建的彩色 LCD 顯示幕可讓操作人員快速、準確且反覆地測量細線單端及差動可控制阻抗跡線線路的頂線和底線線寬和間距。
 
ACCULINE 是一款高性能且可靠的產品,採用先進的微電腦技術及彩色 LCD 影像感測器確保優異的性能與量測可靠性。此工具採用電池供電,因此可提供在任何地點(包括能見度低的暗室)都能輕鬆操作的真正便攜設備。寬大的 LCD 顯示幕可顯示實際的線路影像,並可利用 USB 連接埠傳送至個人電腦進行進一步的分析。

通常操作人員在使用顯微鏡進行測量時須依賴其本身的技術,因此不同的操作人員測出的結果可能有所差異;而 ACCULINE 的自動化量測演算系統可輕易提供準確並可重覆的結果。

 

下載ACCULINE手冊​