测试

Polar UK: Atlas Si VNA PCB Insertion Loss measurement system

Atlas for Anritsu VNA符合IPC TM650 2.5.5.12（确定印刷电路板上信号损耗量的测试方法），并为Delta-L方法提供了支持。

Atlas Si是一种精密的插入损耗测量套件，专门为PCB制造商和OEM设计。它提供了基于频率的传输线损耗的准确，可重复的测量，从而使制造商能够满足将信号完整性保持在最新43 Ghz高速芯片组范围内的严格目标。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA 在RF和微波网络分析应用中实现了更高水平的功能，灵活性和价值，从50 kHz到43.5 GHz的测量提供了卓越的性能。这些仪器非常适合测试具有通用VNA要求的无源和许多有源器件。 Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA技术和设计专业知识，达到卓越的动态范围，校准和测量稳定，和速度性能有效地打包，紧凑且坚固的VNA仪器。

Anritsu ShockLine™ 4-Port Performance VNA

· 带有时间gating选项的时域可在宽带设备中更轻松，更快地识别故障
· 获得专利的非线性传输线（NLTL）技术提供了比竞争技术更宽的带宽和更高的动态范围，从而在更长的校准间隔之间实现了更高的测量精度和可重复性
· 多种校准方法可供选择，以最适合您的应用– SOLT，SOLR，SSLT，SSST，LRL，LRM或Thru update
· Precision AutoCal™或SmartCal™，可轻松实现一键式VNA校准自动方法
· 消除了对过度指定的高端VNA的需求，这些产品具有生产测试不需要的额外功能
· Anritsu的Extended-KTM连接器支持ShockLine频率43 VNAs选件，以兼容K / 2.92 mm的尺寸并提供高达43.5 GHz的性能

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_{Note: Anritsu Corp., USA are the sole owners of following trade marks for ShockLine™, AutoCal™, SmartCal™ and Extended-K^TM}

POLAR：新CITS880s - 可控阻抗测试系统解决方案

CITS880s系统是Polar Instruments Ltd, UK第9代阻抗测试系统。这是给需要精细测量的轨迹及薄铜阻抗的解决方案。 CITS880s设有Launch Point Extrapolation (LPE)，外接的TDR能够更准确地测量线路的瞬时或阻抗的开始。除了Launch Point Extrapolation (LPE)外，CITS880s也能够检测shorter traces - 通常为2至3英寸比前几代CITS系列较为短。 CITS880s现在提供重新设计且由防静电耗材精密成型制造的IPS和IPDS高速探棒。以给CITS给予最大程度的保护。

Polar的IPS和IPDS高速探棒，是专门设计用于CITS880s。他们修改了内部，使用更坚固的机械设计及改进了信号路径，符合人体工程学并使用100％的防静电耗材的精密模压成型。 IPS和IPDS探针与前一代的探针容易地识别，使用蓝色标签及蓝色的对比抗蚀探针于探棒接口上。

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Polar GmbH: RITS550/RITS880 – 自动阻抗测量系统

RITS 550使行业标准CITS880s（受控阻抗测试系统）自动化，从而可以快速，可重复地对试样和PCB进行体积测试。该系统通过易于使用的Windows软件进行控制。测试设置简单明了，结果数据以可访问的格式自动记录，并且有内置的报告生成器选项。

准确性，可追溯的测量RITS550使用成熟的时域反射仪（TDR）技术来测量快速上升时间脉冲的反射。高精度参考航空公司-可追溯到NPL和NIST 标准-确保可重复的测量精度，以控制跟踪阻抗

RITS550飞行探针技术的测试时间与基于夹具的系统一样快，可提供无与伦比的测量可重复性，而终身拥有成本仅为基于夹具的系统的一个小部分。RITS550理想地适合COUPON测试或体积小板测试。

RITS880是按订单制造的自动阻抗测量系统，它是RITS550的较大版本。它可以合并完整尺寸的面板，并可以配备自动上/下板机，以提供用于阻抗测试的完全自动化。

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PWB: IST HC - 互连压力测试系统

互连应力测试或IST是加拿大PWB Interconnect Solutions Inc.开发的一种加速应力测试方法，它克服了热烘箱或液体/液体测试方法的局限性。它具有有效，快速地量化包括微孔在内的不同类型通孔完整性的能力。IST从基板内部产生均匀的应变，并且互连能力可以分配和重新分配此应变，这表明完整性。电镀的枪管和内层接合处将被“执行”，直到未发现初始故障模式/机制。

IST HC使用IST技术对试样进行电循环以确定产品的可靠性。除了支持IPC测试方法2.6.26，最新的IST HC现在还支持IPC测试方法2.6.27来模拟无铅焊料装配。IST HC可以模拟回流炉和组装返工站的温度曲线，以使测试样板在组装过程中经受与实际印刷电路板相同的温度偏移。

IST已成为通孔和材料可靠性的领先测试标准。世界各地的顶级OEM，ODM，CDM，PCB材料和PCB制造商都使用IST技术来测试新的过孔/互连技术，材料和工艺。

该测试系统结合了定制设计的电源和高精度测量系统，这些系统与易于使用的应用软件相连接，该软件可以自动测量，记录，分析带有显示和报告的数据，从而简化了对定制设计测试可靠性的理解，代表实际产品的测试样品。

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CAF（导电阳极丝）测试仪

CAF是一款全自动台式CAF测量设备，具有RH控制，温度控制，V偏压控制，自定义配置文件和远程报告功能。

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DELAM-介电估计和层压分析测量系统
DELAM自动测量和分析材料特性的变化，这表明损坏是否是由于暴露于与组件组装和可能的返工相关的高温引起的

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