POLAR : ATLAS - 損耗量測系統

ATLAS - ATLAS – 衰減損耗分析系統（ATtenuation Loss Analysis System）是一個全新的測試解決方案，可供 PCB 製造商在管控嚴格的生產環境中測試 PCB 傳輸線的損耗。Atlas 軟體可與業界標準的 Tektronix DSA8200 示波器 TDR 接合，並支援 Intel 的 SET2DIL（單端 TDR 到差分插入損耗）測試方法，以便從單端測試和設計合宜的測試條擷取差分插入損耗。

下載 英特尔的 SET2DIL 資料。下載Atlas 手冊。點擊這裡查看常見問題。

系统配置 :

ATLAS - 包含 HF 探測器和損耗測試標準的 Atlas 軟體

Speedstack SI — 包含可控阻抗及損耗預測的疊層設計，適合高速 PCB 設計師使用。

C Gen Plus — 適用於 SET2DIL 損耗條的自動測試條產生器。

POLAR : CITS - 可控阻抗測試系統解決方案

CITS900s4 系統是 Polar 推出的第七代阻抗測試系統，是 PCB 業界測試高速可控阻抗 PCB 的首選標準設備。CITS900s4 可同時提供差分和單端量測功能，具有 4 個可靈活連接探測器的通道。

現在還可選擇 Polarcare 保障計劃來延長對靜電放電（ESD）敏感型系統的保固和支援。

IHARA : ACCULINE - 可攜式線寬及間距量測

亞太區 Polar 與日本的 Ihara Electronics Co. Ltd 合作開發的 ACCULINE 是一個真正便攜、輕巧、採電池供電的數位線寬及間距量測系統。ACCULINE 內建的彩色 LCD 顯示幕可讓操作人員快速、準確且反複地測量細線單端及差分可控阻抗跡線的頂線和底線線寬和間距。
ACCULINE 是一款高性能且可靠的產品，採用先進的微電腦技術及彩色 LCD 影像感測器以確保優異的性能與量測可靠性。此工具採用電池供電，因此可提供在任何地點（包括能見度低的暗室）都能輕鬆操作的真正便攜設備。寬大的 LCD 顯示幕可顯示實際的線路影像，並可利用 USB 連接埠傳送至個人電腦進行進一步的分析。
通常操作人員在使用顯微鏡進行測量時須依賴其本身的技術，因此不同的操作人員測出的結果可能有所差異；而 ACCULINE 的自動化量測演算系統可輕易提供準確並可重複的結果。

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InScan Limited : FI 8/6 系列 – 自動化視覺檢測系統

亞太區 Polar 與香港的 InScan Limited 合作推出 FI 8/6 系列。InScan FI-8 是一個緊湊且高性能的半/全自動雙面 AVI 系統，可供印刷電路板的最終檢測使用。
相較於只能透過一個高解析度交互線式 CCD 感測器進行單面電路板檢測的 FI-6 系列，FI-8 系列系統的設計包含兩個高解析度交互線式 CCD 感測器，可非同步進行平行影像擷取；如此可大幅縮短電路板檢測時間，進而提高系統產能。
除了 FI-6 系列既有的優點之外，FI-8 系列硬體結構還可讓客戶選擇其偏好的自動模組：全自動、半自動或獨立運作。其基礎結構非常靈活，可讓用戶在任何指定的時間升級自動模組而無需購置新系統。
此外也可將 InScan FI-8 及 FI-6 與多個線上驗證工作站相連接。每個工作站可協助用戶在檢測過程中同時確認及標示已檢測過的缺陷。這個系統最大的優點之一，在於操作人員的活動及生產數據會被匯集至一個中央資料庫。系統會分析此數據並讓用戶檢視有關品管狀態、生產趨勢及產能的即時報告。

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ASR Instruments : SIRTS - 表面絕緣電阻測試系統

亞太區 Polar 與美國的 ASR Instruments Inc. 合作推出 SIRTS，一個全新且擁有專利的 SIR/MIR、導電性陽極絲（CAF）電阻與電化學遷移測試系統。
它符合並超越惠普的 EL-EN861-00（ECM）測試、IPC-TM-650、 IPC-TM-650 2.6.25 以及其他許多測試的要求。此系統採用一種獨特的方法，即利用固態開關來取代傳統系統中使用的繼電器。這可消除與使用開關繼電器的系統有關的漏電問題，進而提高系統的可靠性與準確度。256 個通道的掃描時間可從數小時縮短至不到 5 分鐘。

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PWB: IST - 互連應力測試系統

IST 是一種加速應力測試方法，可克服高溫烤爐或液體/液體方法的限制，有效 / 快速地量化確定鍍通孔（PTH）的完整度，並透過其獨有的功能識別多層板上是否存在後期分離及其級別。ISTIST 可從基板內部建立均勻應變，其分配與再分配此應變的互連功能可提供完整性方面的提示。電鍍桶和內層結合點將被「操練」，直到找出初期故障模式/機制為止。

經過數年的密集評估，IPC 已認可 IST 技術為首個用於評估鍍通孔完整性及探測後期分離的電力測試法。IST 測試法已於 IPC-TM-650 測試方法手冊中發表。

IST 已成為通孔和材料可靠性的領先測試標準。全球領先的 OEM、ODM、CDM、材料及 PCB 製造商均採用 IST 技術來測試新材料和程序。

下載 IST 手冊

下載 IPC-TM-650 測試方法

即将推出 : 全新的八頭雙向感測 IST 高容量系統。欲瞭解更多詳情，請聯絡我們

PWB: DELAM - 介電估算及壓板分析量測系統

PWB Interconnect Solutions Inc.開發出了一種可自動測量和分析材料屬性變化的工具，能夠辨別損壞是否是由於暴露在與零件組裝及可能的重製有關的溫度升高所造成。此獨特技術使其 IST 測試功能更為完善。這項工具所採用的原理已證實為一種有效的方法，用以確定印刷電路板所採用的材料能否承受反覆暴露在超出材料本身堅固性的溫度中。

該測試系統具備一個高精度的 LCR（電容）計並已連接一個操作簡單的應用軟體，可自動測量、記錄、分析、顯示及報告所有關鍵測試參數。

下載 PWB 的 DELAM 測試方法

如欲進一步查詢，請請聯絡我們

AET: 介電測量計 – 微波介電測量計

成功設計高速 PCB 的關鍵在於瞭解正確的介電（Dk）以及製造 PCB 疊層所使用的預浸材料或核心材料的損耗正切值。目前，設計師 / 製造商主要依靠製造商所提供的材料數據。AET, Inc 所推出的微波介電測量計可利用一個開放式同軸諧振器的衰減模式，對不同形狀（包括薄膜）的介電材料進行快速且非破壞性測量。內建的反饋式振盪器電路可經由簡單的操作步驟提供精確測量。由於結合了高 Q 諧振腔、高精度量測演算系統以及 3D 電磁模擬軟體，因此能夠達到一流的準確度。

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AET: 用於測量 PCB 損耗的高頻探測台

測量 PCB、連接器及 IC 的損耗時需要謹慎設置高頻率的探針，以確保可使用向量網路分析儀（VNA）或時域反射計（TDR）獲取準確的測量結果。AET, Inc. 所推出的探測台具備一個探測台及一個微型定位器，能夠依 X-Y-Z-theta 方向進行調整，還可以探測不同形狀與尺寸的樣品。訂製設計的固定探測裝置可使用氣動共面探針、半硬式探針或差分主動式探針，並已設計及製造出一個 TRL/LRM 校正套件。探測台可用於測量 PCB 和 RF 電路半導體晶片的損耗。

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