PWB Interconnect Solutions, Canada
 

PCB ビア / インターコネクト信頼性、基板材料、および製造プロセスの分析..

IST 試験システム
  

IST - インターコネクト・ストレス試験システム

IST は、熱オーブン法や液体/液体法の限界を超えた加速ストレス試験法です。IST では、めっきスルーホール (PTH) の完全性が効率的かつ迅速に定量化されると同時に、多層板内のポストセパレーションの存在とレベルも独自に特定されます。IST では、回路基板内から一定の圧力が生成され、この圧力を分散、再分散する相互接続機能により、完全な状態になります。初期不良モード/メカニズムが検出されるまで、めっきバレルと内層の接合部は「作動」します。

数年間に及ぶ厳格な評価を経て、IPC はめっきスルーホールの完全性を評価し、ポストセパレーションを検出する最初の電気テスト法として IST テクノロジーを承認しました。IST 法は IPC-TM-650 テスト法マニュアルに記載されています。

IST は、ビアと基板材料の信頼性の評価を行う最も優れた試験標準になりました。世界中の一流の OEM、ODM、CDM、材料、および PCB メーカーが、新しい材料と工程のテストに際して IST テクノロジーを使用しています。

IST パンフレットをダウンロード

IPC-TM-650 テスト法をダウンロード

近日リリース : IST-HC - 新しいEight Head Dual Sense IST システム。詳細につきましては、お問い合わせください。


DELAM 試験システム
   近日リリース

DELAM - 誘電率評価およびラミネート分析測定システム

PWB Interconnect Solutions Inc. は、材料の属性に変化がある時、損傷の発生がコンポーネントアセンブリに関連して上昇した温度に曝されたことに起因し、再作業が必要な可能性があることを示すため、それらの変化を自動的に測定し分析を行なうツールを開発しました。この独自テクノロジーは、IST 試験システムの能力を補完するものです。このツールで用いられる原則は、プリント配線基板で使用される材料がその固有の堅牢性を上回る温度に周期的に曝される時、耐える能力があるか否かを判断するのに効果的な方法であることが証明されています。

この試験システムには高精度 LCR（静電容量）測定器が組み込まれており、すべての重要な試験パラメータの測定、記録、分析、表示、および報告を自動的に行なうユーザーフレンドリーなアプリケーションソフトウェアに連結します。

PWBのDELAM テスト法をダウンロード

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