AET Inc., Japan
 

高周波材料および損失測定用試験ソリューション..

誘電率測定システム
  

マイクロ波誘電率測定器

高速 PCB の設計を成功させる際に重要となるのは、PCB 層構成を製造するのに使用される誘電体またはコア材料の正しい誘電率 (Dk) と誘電正接値を知っていることです。現在のところ、PCB の設計者/メーカーは、材料メーカーによって提供されるデータに依存しています。AET, Inc社のマイクロ波誘電率測定器は、開放型同軸共振器を使用することで、薄膜を含む様々な形状の誘電材料の測定を高速かつ非破壊で行なうことができます。内蔵されたフィードバック・オシレーター回路により、ステップ・バイ・ステップの簡単操作で、正確な測定が可能です。この精度は、高精度測定アルゴリズムの Q 共振器と 3D 電磁界シミュレーションソフトウェアを組み合わせることで実現されます。

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高周波プローブステーション
  

PCB の損失測定用の高周波プローブステーション

PCB、コネクタおよび IC の損失測定に際して精確な測定を行なうには、ベクトルネットワークアナライザー (VNR) またはタイムドメインリフレクトメーター (TDR) を使用し、高周波プローブを慎重にセットアップすることが求められます。AET 開発のプローブステーションにはプロービングステージとマイクロポジショナーが付いており、X-Y-Z-θ の4方向からの位置決めが可能で、様々な形状サイズの測定試料をプロービングできます。プローブ固定治具はカスタムオーダーが可能で、エアーコプレーナタイプ、セミリジッドタイプ、差動アクティブタイプにも対応しています。TRL/LRM 校正（キャリブレーション）キットが設計・製造されています。このプローブステーションは、PCB および RF 回路の半導体ウェハーの損失測定に使用できます。

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