POLAR : ATLAS - 損失測定システム

ATLAS - ATtenuation Loss Analysis System (日本語名：アトラス) は、厳しく管理された生産環境においてPCB伝送線路損失のテストを行う、PCBメーカー向けの新しいテストソリューションです。Atlasソフトウェアは、業界標準のTktronix社製 DSA8200 オシロスコープTDRと連結し、インテルのSET2DIL (Single-ended TDR to Differential Insertion Loss) テスト法をサポートして、シングル・エンドおよび適切に設計されたテストクーポンから差動挿入損失を抽出します。

インテルのSET2DIL文書をダウンロード。Atlas のパンフレットをダウンロード。 FAQは、ここをクリックしてください。

システム構成 :

ATLAS - 高周波プローブと損失テスト標準を搭載したAtlasソフトウェア

Speedstack SI - 高速PCB設計者に最適な、特性インピーダンス計算および損失予測機能を搭載したPCB層構成設計ソフトウェア

C Gen Plus - SET2DIL損失クーポン用の自動クーポンジェネレータ

POLAR : CITS - 特性インピーダンス試験システム・ソリューション

CITS900s4 システムは、Polarが開発したインピーダンス試験システムの第7世代です。PCB業界の標準装置であり、高速特性インピーダンスPCBの試験システムとして最も人気のあるモデルとなっています。CITS900s4 は、4 チャンネルと共に差動およびシングルエンド測定機能でフレキシブルなプローブ接続を提供します。

この度、保証を延長し静電気放電に敏感なシステムをサポートするための「Polarcareプロテクト」プログラムがご利用いただけるようになりました。

ACCULINE – ポータブル線幅測定器

Polar Instruments Asia Pacificでは、パソコン接続なしで操作可能な、小型・軽量なデジタル線幅測定装置です。　コンパクトで持ち運びが簡単なサイズでバッテリー駆動可能なため、使用場所を問いません。

大型のカラーLCDを装備。測定部の実画像が装置上に表示されるので、ライン＆スペース幅の測定ができるだけでなく、拡大実画像で傷などを観察することも可能です。

ACCULINEの自動測定機能は、読み取り個人差をなくし、測定時間の短縮することを可能としました。経験のない作業者でも簡単に正確なシングルエンドや差動ラインのインピーダンス制御ラインの測定ができます。

ACCULINEは先進のマイコン制御技術と、LCDイメージセンサーにより信頼性の高い計測結果を実現しています。　また照明の無い暗い作業場所でも使用可能です。　大型LCD画面で捉えた伝送線路の画像は、詳細分析のためにUSBポートを介してパソコンに転送することが可能です。

マイクロスコープを使った線幅測定は、オペレーターのスキルレベルによって他の測定者との誤差が発生しやすいのですが、 ACCULINEのオートモード計測を使うことでデジタル解析によって結果が出ますので測定者間誤差を防ぐことが出来ます。

ダウンロードACCULINE資料

PWB : IST - インターコネクト・ストレス試験システム

IST は、熱オーブン法や液体/液体衝撃法の限界を超えた加速ストレス試験法です。ISTでは、めっきスルーホール (PTH) の信頼性が効率的かつ迅速に定量化されると同時に、多層板内のポストセパレーションの有無とダメージレベルも独自に特定されます。ISTでは、回路基板内部から一定の温度負荷をかけ、インターコネクト部位の信頼性を検証します。

数年間に及ぶ厳格な評価を経て、米国IPCはめっきスルーホールの、インターコネクト信頼性検証システムとして IST テクノロジーを推奨し、IST 法は IPC-TM-650 テスト法マニュアルとして記載されています。

IST は、ビアと基板材料の信頼性の評価を行う最も優れた試験標準になりました。世界中の一流の OEM、ODM、CDM、材料、および PCB メーカーが、新しい材料とプロセス工程の評価に際して IST テクノロジーを使用しています。

IST パンフレットをダウンロード

IPC-TM-650 テスト法をダウンロード

近日リリース : MIST - 新しいEightt Head Dual Sense ISTシステム。詳細については、お問い合わせください。

PWB : DELAM試験システム - 剥離評価およびラミネート分析測定システム

PWB 社は、層間の剥離不良の発生を静電容量を計測する事により、判別する測定器を開発しました。この独自テクノロジーは、IST インターコネクト試験システムの能力を補完するものです。この測定器で用いられるアルゴリズムは、プリント配線基板で使用される材料がTg温度以上の環境下に置かれる時、層間の剥離不良の発生有無を判断するのに効果的なソリューションです。クロスセクション分析を行う事なく、剥離現象を確認する事ができます。

この試験システムには高精度 LCR（静電容量）測定器が組み込まれており、試験パラメータの測定、記録、分析、表示、およびレポートを自動的に行なう事ができます。

PWBのDELAM試験システムをダウンロード

詳細については、お問い合わせください

AET : 誘電率測定器 - マイクロ波誘電率測定器

高速 PCB の設計を成功させる際に重要となるのは、PCB 層構成を製造するのに使用される誘電体またはコア材料の正しい誘電率 (Dk) と誘電正接値を把握とです。現在のところ、PCB の設計者/メーカーは、材料メーカーによって提供されるデータに依存しています。AET, Inc のマイクロ波誘電率測定器は、開放型同軸共振器を使用することで、薄膜を含む様々な形状の誘電材料の測定を高速かつ非破壊で行なうことができます。内蔵されたフィードバック・オシレーター回路により、ステップ・バイ・ステップの簡単操作で、正確な測定が可能です。この精度は、高精度測定アルゴリズムの Q 共振器と 3D 電磁界シミュレーションソフトウェアを組み合わせることで実現されます。

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AET : PCB の損失測定用の高周波プローブステーション

PCB、コネクタおよびICの損失測定に際して精確な測定を行なうには、ベクトルネットワークアナライザー (VNR) またはタイムドメインリフレクトメーター (TDR) を使用し、高周波プローブを慎重にセットアップすることが求められます。AET 開発のプローブステーションにはプロービングステージとマイクロポジショナーが付いており、X-Y-Z-θ の4方向からの位置決めが可能で、様々な形状サイズの測定試料をプロービングできます。プローブ固定治具はカスタムオーダーが可能で、エアーコプレーナタイプ、セミリジッドタイプ、差動アクティブタイプにも対応しています。TRL/LRM 校正（キャリブレーション）キットが設計・製造されています。このプローブステーションは、PCBおよびRF回路の半導体ウェハーの損失測定に使用できます。

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