AET Inc., 日本
 

适用于高频材料与损耗测量的测试解决方案..

电介质测量系统
  

微波介质测试器

成功设计高速 PCB 的关键是要了解正确的电介质 (Dk) 及用于制造 PCB 叠层的预浸材料或核心材料的损耗正切值。目前，设计师与制造商主要依靠制造商所提供的材料数据。AET, Inc 所推出的微波介质测试器通过利用开放式同轴谐振器的衰减模式，能够快速地对不同形状 (包括薄膜) 的电介质材料进行非破坏性测量。内置的反馈式振荡器电路可通过简单的操作步骤来进行精确测量。由于集成了高 Q 谐振腔、高精度测量算法及 3D 电磁场仿真软件，因此能够实现较高的精确度。

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高频探测台
  

测量 PCB 损耗的高频探测台

测量 PCB、连接器及 IC 的损耗时需要对高频率探测器进行谨慎的设置，以确保可使用矢量网络分析仪 (VNA) 或时域反射计 (TDR) 来进行精确的测量。AET, Inc. 所推出的探测台拥有探测台和微型定位器，能够在 X-Y-Z-theta 方向上进行调整，还可以探测不同形状与尺寸的样品。定制型设计的固定探测装置可使用气动共面探针、半刚探针或差分有源探针。已设计并制造 TRL/LRM 校准套件。探测台可用于测量 PCB 和 RF 电路上半导体片的损耗。
 
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